仪器简介：
原理：X-射线衍射仪是利用X射线衍射原理，即当X射线从不同的角度从晶体物质内部经过时，X射线经原子的作用其光路方向会有规律的发生改变，应用检测设备可以得到发生偏转后的X射线方向和强度，从而反映出晶体的内部结构信息(晶体的化学组成、晶格类型与结构、晶面指数及相对强度、织构及应力、物相成分等)。
X射线粉末衍射仪主要用于材料结构相关的多方面分析：多晶材料（金属、陶瓷、矿物及人工制备结晶材料）、多晶薄膜、单晶薄膜及各种无机、有机复合材料及非晶态物质。并能够精确测定物质的晶体微观结构，织构及应力，精确的进行物相检索与分析，定性、定量分析、应用谢乐方程分析晶粒大小和晶体生长层数(n值)等。
